電接口的指標(biāo)應(yīng)符合itu-t的有關(guān)建議要求．圖5-13中的a,b點為電接口．通常把a點稱為輸人口，b點稱為輸出口．在輸人口和輸出口都需要測試的指標(biāo)有：比特率及容差、反射損耗,將此稱為一般指標(biāo)．專門在輸人口測試的指標(biāo)有輸人口允許衰減和抗干擾能力、輸入抖動容限；專門在輸出口測試的指標(biāo)有輸出口脈沖波形、無輸入抖動時的輸出抖動容限．
1．一般指標(biāo)與測試
(1)比特率及容差
①比特率及容差的含義
比特率是指在單位時間內(nèi)（通常為is）傳送的比特數(shù)，由于信號衰減、抖動及其他影響，實際傳送數(shù)字信號的比特率與標(biāo)稱比特率之間會有些差別．當(dāng)差別在一定范圍內(nèi)變化時，光端機仍能正確接收傳輸信號而不產(chǎn)生誤碼，這種差別的允許范圍即為容差．表5-1給出了數(shù)字信號標(biāo)稱比特率及容差。
表 5-1 各級電接口標(biāo)稱比特率及容差
光端機的輸入口和輸出口均應(yīng)滿足表5-1的要求。對輸入口而言，在光端機接收容差范圍內(nèi)的任何比特率信號時，輸入口的參數(shù)即允許衰減、允許抖動容限等參數(shù)都能滿足各自的指標(biāo)要求。對輸出口而言，無論光端機上游是什么設(shè)備，從光端機輸出口輸出的信號比特率應(yīng)在容差范圍內(nèi)。容差常用“ppm”表示，即10-6。例如，當(dāng)系統(tǒng)碼速為2048kbit/s，容差為50ppm，即表示實際允許碼速的偏差為
±(2048×103×50×10-6)=±102 bit／s
②測試方法
先以輸人口比特率及容差的測試為例，測試方框圖如圖5-16所示，測試時，需測出輸入口所能承受的比特率的正偏和反偏的極限．具體測試步驟如下：
a．按圖5-16所示連接電路，其中光可變衰減器用以代替長光纖。
b．碼型發(fā)生器發(fā)出規(guī)定標(biāo)稱比特率的測試信號。
c．調(diào)高碼型發(fā)生器的比特率，直到在誤碼檢測器上出現(xiàn)誤碼，此時的比特率為b1。
d．調(diào)低碼型發(fā)生器的比特率，直到在誤碼檢測器上出現(xiàn)誤碼，此時的比特率為b2。
e．b1，b2分別與標(biāo)稱比特率之間的差值就是正、負(fù)方向的容差。
圖5 - 16輸人口比特率及容差測試方框圖
測試輸出口比特率及容差時，需先測得輸出口的比特率，這就要在圖5-16中的輸出口處接一個數(shù)字測試儀及數(shù)字式頻率計．?dāng)?shù)字式頻率計從接收信號中提取時鐘'由頻率計根據(jù)提取的時鐘給出信號的比特率．它與標(biāo)稱比特率之間的差值應(yīng)在表5-1所示的容差范圍內(nèi)。
(2)反射損耗
①反射損耗的含義
當(dāng)傳輸電纜與光端機相連時，若連接點處阻抗不匹配，就會產(chǎn)生反射損耗．即當(dāng)傳輸電纜的特性阻抗zc與光端機接口處的阻抗zx不相等時，就會在光端機接口處產(chǎn)生反射．反射信號與入射信號疊加，使光端機接口處的信號失真，以致造成誤碼．這里用bp來表示反射損耗，它的定義式為
其中
一般zc=75 q．由上式可知，當(dāng)zx=zc時，ρ=o，表示沒有反射信號；當(dāng)zx≠zc時,則將引起反射．若反射功率為pr（μw），入射功率為p0（μw），則式(5-23)也可寫為
對于實際的光端機，電接口不可能完全阻抗匹配，為了保證系統(tǒng)正常工作’反射衰減應(yīng)達到規(guī)定值．表5-2給出了一、二、三次群電接口對輸入口提出的反射損耗，四次群電接口對輸入和輸出口提出的反射損耗的要求。
②測試方法
光端機輸人口與輸出口反射損耗的測試方法相同．現(xiàn)以輸人口為例測試反射損耗．它的測試方框圖如圖5-17所示．具體測試步驟如下：
a．按圖5-17所示連接電路，其中，振蕩器發(fā)出測試所需的電信號，75 ω反射電橋提供標(biāo)準(zhǔn)75 ω阻抗，選頻表用來測試某一頻率下的電信號功率電平值．
b．先斷開zx，調(diào)整振蕩器輸出，此時選頻表的指示電平即入射功率lo(dbm)．
c．將zx接在反射電橋上，此時電平表指示電平即為反射功率lr(dbm)．
d．計算反射損耗bp= lo一lr(db)．
表 5-2 電接口反射損耗指標(biāo)
圖5-17電接口反射損耗測試方框圖
2．輸入口指標(biāo)與測試
(l)輸人口允許衰減
①輸人口允許衰減的含義
信號由電端機經(jīng)過一段電纜送人光端機時，電纜對信號有一定的衰減，這就要求光端機在接收這種信號時仍不會發(fā)生誤碼，這種光端機輸人口能承受一定傳輸衰減的特性，用允許衰減來表示．
②測試方法
輸入口允許衰減的測試方框圖如圖5-18所示，具體測試步驟如下：
圖5一18輸人口允許衰減測試方框圖
a．按圖5-18所示連接電路．其中，輸入口連接電纜對信號的衰減符合 衰減規(guī)律．長光纖可用光可變衰減器代替。
b．誤碼儀發(fā)送規(guī)定測試信號。
c．使連接電纜的衰減按表5-3所要求的允許衰減范圍內(nèi)變化，以誤碼檢測器檢測不到誤碼時的衰減值為測試結(jié)果。
表5-3 輸入口允許的連線衰減和抗干擾能力
(2)輸入口抗干擾能力
①輸入口抗干擾能力的含義
對光端機而言，由于數(shù)字配線架和上游設(shè)備輸出口阻抗的不均勻性，會在接口處產(chǎn)生信號反射，反射信號對有用信號來說是個干擾信號．通常把光端機在接收被干擾的有用信號后仍不會產(chǎn)生誤碼的能力稱為輸入口的抗干擾能力，因此，常用有用信號功率與干擾信號功率之比表示抗干擾能力的大小。
②測試方法
輸入口抗干擾能力的測試方框圖如圖5-19所示，具體測試步驟如下：
圖5一19輸人口抗干擾能力測試方框圖
a．按圖5-19所示連接電路．其中，混合網(wǎng)絡(luò)將有用信號和干擾信號合并起來，光端機輸入口處符合衰減規(guī)律的電纜的衰減范圍按表5-3選取，長光纖可用光可變衰減器代替。
b．誤碼儀的碼型發(fā)生器發(fā)出規(guī)定的測試信號作為有用信號，干擾源發(fā)出干擾信號。
c．調(diào)節(jié)干擾支路的衰減囂，使信號／干擾比的取值如表5-3所列，那么以誤碼檢測器檢測不到誤碼為測試結(jié)果。
(3)輸入抖動容限
3．輸出口指標(biāo)與測試
(1)輸出口脈沖波形
①脈沖波形樣板
為使各廠家生產(chǎn)的不同型號的設(shè)備能彼此相連，就要求這些設(shè)備的接口波形必須符合itu-t提出的要求，即符合g.703建議中的脈沖波形樣板，其圖形如圖5-20~圖5-23所示。可見，接口碼速不同，對脈沖波形的要求不同，每種波形的脈沖寬度及幅度、上升、下降時間、過沖程度等都有嚴(yán)格規(guī)定．但只要設(shè)備的接口波形在樣板斜線范圍內(nèi)，則同一碼速的不同型號的設(shè)備就能互連。
圖5-20 2048kbit/s接口脈沖樣板
圖5-21 8448kbit/s接口脈沖樣板
圖5-22 34368kbit/s接口脈沖樣板
圖5-23 139264kbit/s接口脈沖樣板
(a)對應(yīng)于二進制“0”的脈沖樣板
圖5-23 139264kbit/s接口脈沖樣板
(b)對應(yīng)于二進制“1”的脈沖樣板
②測試方法
輸出口脈沖波形的測試方框圖如圖5-24所示，具體測試步驟如下：
圖5-24輸出口樣板波形測試方框圖
a．按圖5-24所示連接電路，其中示波器與光端機輸出口連接時，要用75 ω電阻匹配，帶寬要足夠大，尤其是當(dāng)系統(tǒng)碼速為139. 26 mlbit/s時，還要用一個電容作交流耦合。
b．?dāng)嚅_輸入信號，此時示波器的水平掃描線作為波形樣板的標(biāo)稱零電位。
c．再接上碼型發(fā)生器，并使之產(chǎn)生規(guī)定的偽隨機碼測試信號，此時示波器的波形應(yīng)滿足規(guī)定的脈沖樣板波形。
（2)無輸入抖動時的輸出抖動容限