langer朗格爾e 1 抗干擾開發(fā)系統(tǒng)
e1 抗干擾開發(fā)系統(tǒng)說明
e1 抗干擾開發(fā)系統(tǒng)是電子研發(fā)工程師對(duì)組件進(jìn)行快速瞬變脈沖群（burst）和靜電放電（esd）等脈沖抗干擾測試的成熟工具。利用該工具，可以對(duì)模塊進(jìn)行小空間范圍內(nèi)的抗干擾度分析。在對(duì)受試設(shè)備（eut）的抗干擾分析中，能夠選擇性地給部分模塊或部分路段注入干擾電流（干擾電流路徑），以及能夠?qū)ζ浔砻娴倪x定區(qū)域施加電脈沖場（e 場）或磁脈沖場（h 場）正是快速、準(zhǔn)確定位薄弱點(diǎn)的關(guān)鍵。另外，使用本系統(tǒng)還可以在施加脈沖干擾的同時(shí)，進(jìn)行無反作用的光纖信號(hào)監(jiān)測。
e1 干擾發(fā)射開發(fā)系統(tǒng)的著重點(diǎn)是對(duì)系統(tǒng)開發(fā)過程的支持。利用 e1 系統(tǒng)，開發(fā)人員可以在工作場地排查設(shè)備/組件的干擾問題，或者通過了解干擾問題的直接原因，測量評(píng)估修改措施的效果，增強(qiáng)設(shè)備/組件的抗干擾度。
e1 抗干擾開發(fā)系統(tǒng)不能用來進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)兼容性測試，但是按照 iec 61000-4-4 和 iec 61000-4-2 標(biāo)準(zhǔn)對(duì)組件進(jìn)行抗干擾的測試結(jié)果，是使用 e1 系統(tǒng)進(jìn)行抗干擾測試的良好基礎(chǔ)。通用脈沖群發(fā)生器產(chǎn)生的標(biāo)準(zhǔn)干擾信號(hào)被耦合到輸入端，并通過地線回流到發(fā)生器。這些脈沖狀的干擾信號(hào)流過設(shè)備組件的路徑是未知的。在設(shè)備當(dāng)中，未知的部分干擾信號(hào)流入某個(gè)未知的接受載體而產(chǎn)生功能故障。這個(gè)薄弱點(diǎn)的位置往往僅局限在組件上幾平方厘米的范圍內(nèi)，但是通過標(biāo)準(zhǔn)測試方法很難對(duì)其定位。開發(fā)人員還不知道，是否是干擾電流及其磁場以及在什么位置導(dǎo)致導(dǎo)線回路中產(chǎn)生感應(yīng)電壓脈沖，或者電場容性耦合進(jìn)入了敏感線路。
如果設(shè)備通不過標(biāo)準(zhǔn)測試，其重要的測試結(jié)果是關(guān)于功能故障類型的詳細(xì)信息。但是僅憑借這些故障信息尚無法具體定位受試設(shè)備中的薄弱點(diǎn)。所以，建議先對(duì)受試設(shè)備進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)的抗干擾測試，確定可能的故障現(xiàn)象，然后開發(fā)人員根據(jù)這些故障現(xiàn)象，在產(chǎn)品開發(fā)場地利用 e1 系統(tǒng)定位
故障點(diǎn)及分析故障原因，給出排除干擾問題、設(shè)計(jì)修改等解決辦法，并使用 e1 開發(fā)系統(tǒng)，評(píng)估各項(xiàng)修改措施的有效性。
借助 e1 系統(tǒng)，開發(fā)人員可以顯著節(jié)約產(chǎn)品開發(fā)時(shí)間、降低開發(fā)成本。
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langer朗格爾e 1 抗干擾開發(fā)系統(tǒng)