本文適用于電力公司所轄電網(wǎng)設(shè)備外徑≥φ80mm的瓷支柱絕緣子及外徑≥φ150mm的瓷套在安裝和大修時(shí)的超聲波檢驗(yàn)。不適用于復(fù)合材料制造的支柱絕緣子及套管。
1、支柱絕緣子超聲波探傷儀聲速測定
1）、對不同批次、不同尺寸的瓷支柱絕緣子，需按不少于1%的比例抽檢作聲速測定，以確定其強(qiáng)度范圍。
2）、瓷支柱絕緣子的聲速測定應(yīng)采用縱波直探頭，采用卡尺量出被測瓷支柱絕緣子的直徑并輸入儀器，調(diào)整儀器找到兩次回波，并將回波限在閘門范圍內(nèi)，測試出被測瓷件聲速值。一般高強(qiáng)瓷的聲速＞6500m/s。
3）、瓷套的聲速測定暫不作要求。
2、支柱絕緣子超聲波探傷儀內(nèi)部缺陷檢測
1）、內(nèi)部缺陷（指瓷件內(nèi)部存在的點(diǎn)狀、多個(gè)或從狀、裂紋等缺陷）應(yīng)采用縱波斜入射方法進(jìn)行檢測。
2）、選擇探頭：在探頭移動(dòng)范圍允許的情況下，盡量選擇入射角較大的探頭，以提高表面缺陷檢出能力。一般可在直徑變化20mm的范圍內(nèi)確定一種弧度規(guī)格探頭,直徑大的探頭可用于探測直徑小一檔的瓷件。瓷支柱絕緣子及瓷套直徑大于φ240mm時(shí)可以采用平面探頭。
3）、調(diào)整顯示比例：以jyz-bx試塊上與瓷支柱絕緣子直徑及瓷套壁厚相近處的φ1mm橫通孔作為參照，調(diào)整波形顯示比例（一般儀器a通道預(yù)置顯示比例適用于直徑200mm的瓷件。比如瓷支柱絕緣子直徑為140 mm，屏幕上底波的橫向顯示距離應(yīng)為距始波70%屏幕寬度）。
4）、調(diào)整靈敏度：以jyz-bx試塊上深40mm，φ1mm橫通孔為參照，采用按自動(dòng)增益鍵或手動(dòng)調(diào)整增益的方式，使該橫通孔的zui強(qiáng)反射波高為屏幕縱向顯示刻度的80%（即80％波高）。
5）、手動(dòng)調(diào)整增益值時(shí)，如瓷件為高強(qiáng)瓷可按增益值速算表進(jìn)行設(shè)定，中強(qiáng)瓷則須在下表的基礎(chǔ)上再增益4 db。
瓷件厚度或直徑（㎜）
30
40
60
80
100
120
140
160
180
200
220
240
φ1孔靈敏度（db）
58
60
62
64
66
68
70
72
74
76
78
80
3、支柱絕緣子超聲波探傷儀表面缺陷檢驗(yàn)
1）、表面缺陷（指瓷件近表面的點(diǎn)狀、裂紋等缺陷，一般深度≤9mm）應(yīng)采用爬波方法進(jìn)行檢測。
2）、選擇探頭：在探頭移動(dòng)范圍允許的情況下，盡量選擇較大晶片尺寸的探頭,以提高表面缺陷檢出能力。一般可在直徑變化20mm范圍內(nèi)確定一種弧度規(guī)格探頭,直徑大的探頭可用于探測直徑小一檔的瓷件。瓷支柱絕緣子及瓷套直徑大于φ240mm時(shí)可以采用平面探頭。
3）、根據(jù)儀器內(nèi)置的距離波幅曲線對試件進(jìn)行探傷。
4）、儀器內(nèi)置的距離波幅曲線應(yīng)每半年一次按廠家提供的制作方法重新校正。