掃描電化學(xué)顯微鏡將傳統(tǒng)的電極表面的電化學(xué)行為研究從宏觀尺寸拓展到局部的微米和納米尺度范圍內(nèi)。傳統(tǒng)的secm使用超微電極（r<25um）探針在樣品表面近距離進行恒高掃描以得到探針與樣品之間的電化學(xué)反應(yīng)信號，從而可以用來研究探針或者樣品與電化學(xué)反應(yīng)活性物種之間的相互作用過程和原理。傳統(tǒng)的secm是探針以恒高方式掃描，而實際樣品表面高低起伏的變化會導(dǎo)致終得到的電化學(xué)反應(yīng)信號中夾雜著由于探針與樣品之間實際距離的不固定而引起的卷積效應(yīng)，降低了局部電化學(xué)信號的分辨率。
secm在腐蝕中的應(yīng)用日益受到重視 。secm的檢測信號是電流或者電位，因而具有化學(xué)反應(yīng)靈敏性，不但可以研究探頭或者基底電極上的異相反應(yīng)電荷轉(zhuǎn)移動力學(xué)和溶液中的均相反應(yīng)動力學(xué),甚至可以獲得界面雙電層信息,還可以原位分辨表面微區(qū)電化學(xué)不均勻性，從而彌補了掃描電鏡等不能直接提供電化學(xué)活性信息的不足，這對于腐蝕研究具有重要的意義。