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        IEC 68-2-14 試驗(yàn)方法 N :溫度變化(宏展科技)

        發(fā)布時(shí)間:2024-06-06
        iec68-2-14試驗(yàn)方法n:溫度變化
        iec68-2-14testn:changeoftemperature
        前言
        本試驗(yàn)法之目的在決定試件於溫度變化或溫度連續(xù)變化環(huán)境下所受之影響。
        範(fàn)圍
        本試驗(yàn)法可區(qū)分為:
        試驗(yàn)方法na:在特定時(shí)間內(nèi)快速溫度變化。
        試驗(yàn)方法nb:在特定溫度變率之溫度變化。
        試驗(yàn)方法nc:雙液體浸泡法之快速溫度變化。
        前二項(xiàng)適用於元件、裝備或其他產(chǎn)品,第三項(xiàng)則適用於玻璃-金屬密封及類似之產(chǎn)品。
        限制
        本試驗(yàn)法並不驗(yàn)證高溫或低溫環(huán)境效應(yīng),若欲驗(yàn)證此種條件,則應(yīng)採(cǎi)用iec68-2-1試驗(yàn)法a:冷或iec68-2-2試驗(yàn)方法b:乾熱。
        測(cè)試步驟
        試驗(yàn)方法na:在特定時(shí)間內(nèi)快速溫度變化。
        試件於試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。
        試件型態(tài)應(yīng)為無(wú)包裝、不加電及使用備便之狀況或其他相關(guān)規(guī)範(fàn)規(guī)定之狀態(tài)。試件初始條件為實(shí)驗(yàn)室之室溫。
        將兩部溫度櫃分別調(diào)溫至規(guī)定之高溫及低溫條件。
        將試件置於低溫櫃中,並依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。
        將試件移於高溫櫃中,並依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。
        高、低溫轉(zhuǎn)移時(shí)間依測(cè)試條件規(guī)定執(zhí)行。
        重複步驟d及步驟e之程序計(jì)4次。
        試驗(yàn)後應(yīng)將試件置於標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下,並保持一定時(shí)間,使試件達(dá)到溫度穩(wěn)定。
        回復(fù)時(shí)間參考相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定。
        試驗(yàn)後試件應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。
        試驗(yàn)方法nb:在特定溫度變率之溫度變化。
        試件於試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。
        將試件置於溫度櫃內(nèi),試件形態(tài)應(yīng)為無(wú)包裝、不加電及使用備便之狀況或其他相關(guān)規(guī)範(fàn)規(guī)定之狀態(tài)。試件初始條件為實(shí)驗(yàn)室之室溫。
        若有相關(guān)規(guī)範(fàn)需求,試件可成為操作狀態(tài)。
        將櫃溫降至規(guī)定之低溫條件,並依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。
        將櫃溫升至規(guī)定之高溫條件,並依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。
        高、低溫之溫度變率依測(cè)試條件規(guī)定執(zhí)行。
        重複步驟d及步驟e之程序。
        試驗(yàn)中須執(zhí)行電性及機(jī)械檢驗(yàn)。
        記錄電性及機(jī)械性能檢測(cè)所使用之時(shí)間。
        試驗(yàn)後應(yīng)將試件置於標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下,並保持一定時(shí)間,使試件達(dá)到溫度穩(wěn)定。
        回復(fù)時(shí)間參考相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定。
        試驗(yàn)後試件應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。
        試驗(yàn)方法nc:雙液體浸泡法之快速溫度變化。
        試件於試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。
        試件型態(tài)為無(wú)包裝。試件初始條件為實(shí)驗(yàn)室之室溫。
        將兩種液體分別調(diào)溫至0℃及100℃。
        將試件沈浸至0℃之液體容器內(nèi),並依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。
        將試件沈浸至100℃之液體容器內(nèi),並依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。
        高、低溫轉(zhuǎn)移時(shí)間依測(cè)試條件規(guī)定執(zhí)行。
        重複步驟d及步驟e之程序9次。
        試驗(yàn)後應(yīng)將試件置於標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下,並保持一定時(shí)間,使試件達(dá)到溫度穩(wěn)定。
        回復(fù)時(shí)間參考相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定。
        試驗(yàn)後試件應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。
        測(cè)試條件
        測(cè)試條件可由下選擇適當(dāng)之溫度條件及試驗(yàn)時(shí)間或依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定。
        試驗(yàn)方法na:在特定時(shí)間內(nèi)快速溫度變化
        高溫:1000,800,630,500,400,315,250,200,175,155,125,100,85,70,55,40,30℃。
        低溫:-65,-55,-40,-25,-10,-5,5℃。
        濕度:每立方公尺空氣所含蒸氣需低於20公克(相當(dāng)於35℃時(shí)50%相對(duì)濕度)。
        駐留時(shí)間:含溫度櫃之溫度調(diào)整時(shí)間可為3小時(shí)、2小時(shí)、1小時(shí)、30分鐘或10分鐘,若無(wú)規(guī)定則訂為3小時(shí),試件置入溫度櫃後,溫度調(diào)整時(shí)間不可超過(guò)駐留時(shí)間之十分之一。
        轉(zhuǎn)移時(shí)間:手動(dòng)2~3分鐘,自動(dòng)少於30秒,小試件則少於10秒。
        循環(huán)數(shù):5循環(huán)。
        試驗(yàn)容差:溫度低於200℃之容差為±2℃。
        溫度介於250~1000℃之容差為測(cè)試溫度之±2%。
        若溫度櫃尺寸大小無(wú)法達(dá)到上述容差要求,容差可放寬;溫度低於100℃之容差為±3℃,溫度介於100~200℃之容差為±5℃(容差放寬需於報(bào)告中註明)。
        試驗(yàn)輪廓:如圖1所示。
        試驗(yàn)方法nb:在特定溫度變率之溫度變化
        高溫:1000,800,630,500,400,315,250,200,175,155,125,100,85,70,55,40,30℃。
        低溫:-65,-55,-40,-25,-10,-5,5℃。
        濕度:每立方公尺空氣所含蒸氣需低於20公克(相當(dāng)於35℃時(shí)50%相對(duì)濕度)
        駐留時(shí)間:含升降溫時(shí)間可為3小時(shí)、2小時(shí)、1小時(shí)、30分鐘或10分鐘,若無(wú)規(guī)定則訂為3小時(shí)。
        溫度變率:溫度櫃5分鐘內(nèi)平均溫度升降變率為1±0.2℃/min、3±0.6℃/min或5±1℃/min。
        循環(huán)數(shù):2循環(huán)。
        試驗(yàn)容差:溫度低於200℃之容差為±2℃。
        溫度介於250~1000℃之容差為測(cè)試溫度之±2%。
        若溫度櫃尺寸大小無(wú)法達(dá)到上述容差要求,容差可放寬溫度低於100℃之容差為±3℃,溫度介於100~200℃之容差為±5℃(容差放寬需於報(bào)告中註明)。
        試驗(yàn)輪廓:如圖2所示。
        試驗(yàn)方法nc:雙液體浸泡法之快速溫度變化
        高溫:100℃。
        低溫:0℃。
        駐留時(shí)間:可為5~20分鐘或15秒~5分鐘。
        轉(zhuǎn)移時(shí)間:駐留時(shí)間在5~20分鐘為8±2秒。
        駐留時(shí)間在15秒~5分鐘為2±1秒。
        循環(huán)數(shù):10循環(huán)。
        試驗(yàn)容差:高溫不可低於規(guī)格5℃。
        @低溫不可高於規(guī)格2℃。
        試驗(yàn)輪廓:如圖3所示。
        試驗(yàn)設(shè)置
        試驗(yàn)方法na:在特定時(shí)間內(nèi)快速溫度變化。
        高、低溫櫃之內(nèi)壁溫度與溫度試驗(yàn)規(guī)格之差異分別不可超過(guò)3%及8%(以°k示),以避免熱輻射問(wèn)題。
        生熱試件應(yīng)儘量置於試驗(yàn)櫃之*,且試件與櫃壁、試件與試件之距離應(yīng)大於10公分以上,溫度櫃與試件體積之比應(yīng)大於5:1。
        試驗(yàn)方法nb:在特定溫度變率之溫度變化。
        試件於試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。
        試件型態(tài)應(yīng)為無(wú)包裝、不加電及使用備便之狀況或其他相關(guān)規(guī)範(fàn)規(guī)定之狀態(tài)。試件初始條件為實(shí)驗(yàn)室之室溫。
        將兩部溫度櫃分別調(diào)溫至規(guī)定之高溫及低溫條件。
        將試件置於低溫櫃中,並依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。
        將試件移於高溫櫃中,並依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。
        高、低溫轉(zhuǎn)移時(shí)間依測(cè)試條件規(guī)定執(zhí)行。
        重複步驟d及步驟e之程序計(jì)4次。
        試驗(yàn)後應(yīng)將試件置於標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下,並保持一定時(shí)間,使試件達(dá)到溫度穩(wěn)定。
        回復(fù)時(shí)間參考相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定。
        試驗(yàn)後試件應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。
        試驗(yàn)方法nc:雙液體浸泡法之快速溫度變化。
        試驗(yàn)之液體選用應(yīng)與試件相容,不可傷害到試件。
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