手機進網(wǎng)預(yù)測試項目簡介
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一：手機進網(wǎng)預(yù)測試可以分為四大部分：
（1） ta---型號核準(zhǔn)測試
（2） emc---電磁兼容測試
（3） field try---場測（專業(yè)試用）
（4） nal---電信設(shè)備進網(wǎng)測試
二：emc---電磁兼容測試介紹
emc全稱electro-magnetic compatibility。指的是設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾的能力。emc是評價產(chǎn)品質(zhì)量的一個重要指標(biāo)。
emc測試包括：
（1）emi（electro-magnetic interference）---電磁騷擾測試
此測試之目的為：檢測電器產(chǎn)品所產(chǎn)生的電磁輻射對人體、公共電網(wǎng)以及其他正常工作之電器產(chǎn)品的影響。
（2）ems（electro-magnetic susceptibility）---電磁抗擾度測試
此測試之目的為：檢測電器產(chǎn)品能否在電磁環(huán)境中穩(wěn)定工作，不受影響。
其中emi包括：
（1） 輻射騷擾測試（re）---測試標(biāo)準(zhǔn)：en55022
（2） 傳導(dǎo)騷擾測試（ce）---測試標(biāo)準(zhǔn)：en55022
（3） 諧波電流測試（harmonic）---測試標(biāo)準(zhǔn)：en 61000-3-2
（4） 電壓變化與閃爍測試（flicker）---測試標(biāo)準(zhǔn)：en 61000-3-3
ems包括：
（1） 靜電放電抗擾度測試（esd）---測試標(biāo)準(zhǔn)：en6100-4-2
（2） 射頻電磁場輻射抗擾度（rs）---測試標(biāo)準(zhǔn)：en61000-4-3
（3） 射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度（cs）---測試標(biāo)準(zhǔn)：en61000-4-6
（4） 電快速瞬變脈沖群抗擾度測試（eft）---測試標(biāo)準(zhǔn)：en61000-4-4
（5） 浪涌（沖擊）抗擾度（surge）---測試標(biāo)準(zhǔn)：en61000-4-5
（6） 電壓暫降，短時中斷和電壓變化抗擾度測試（dip）---測試標(biāo)準(zhǔn)：en61000-4-11
（7） 工頻磁場抗擾度測試（pfmf）---測試標(biāo)準(zhǔn)：en61000-4-8
三：手機進網(wǎng)預(yù)測試中涉及到的emc測試項目
上面就一般電器產(chǎn)品的emc測試項目做了一些說明，本節(jié)主要介紹手機在進網(wǎng)測試中所需進行的emc測試。
emi方面：
（1） 輻射連續(xù)騷擾（re）---測試標(biāo)準(zhǔn)：gb9254-1998
（2） 傳導(dǎo)連續(xù)騷擾（ce）---測試標(biāo)準(zhǔn)：gb9254-1998
（3） 輻射雜散騷擾（se（r））---測試標(biāo)準(zhǔn)：yd1032-2000中7.2
（4） 傳導(dǎo)雜散騷擾（se（c））---測試標(biāo)準(zhǔn)：yd1032-2000中7.1
ems方面：
（1） 電快速瞬變脈沖群抗擾度測試（eft）---測試標(biāo)準(zhǔn)：gb/t 17626.4-1998
（2） 靜電放電抗擾度（esd）---測試標(biāo)準(zhǔn)：gb/t 17626.2-1998
（3） 浪涌（沖擊）抗擾度（surge）---測試標(biāo)準(zhǔn)：gb/t 17626.5-1998
（4） 射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度（cs）---測試標(biāo)準(zhǔn)：gb/t 17626.6-1998
（5） 射頻電磁場輻射抗擾度（rs）---測試標(biāo)準(zhǔn)：gb/t 17626.3-1998
（6） 電壓暫降，短時中斷和電壓變化抗擾度（dip）---測試標(biāo)準(zhǔn)：gb/t 17626.11-1998
輻射與傳導(dǎo)的區(qū)別：
輻射：物體都以電磁波的形式時刻不停地向外傳送能量,這種傳送能量的方式稱為輻射。物體通過輻射所放出的能量，稱為輻射能，簡稱輻射。
傳導(dǎo)：通過某種實物連接而產(chǎn)生的能量傳遞。
連續(xù)騷擾：對一個特定設(shè)備的效應(yīng)不能分解為一串能清晰可辨的效應(yīng)的電磁騷擾。
輻射連續(xù)騷擾也可稱為輻射騷擾或者輻射干擾即re，其測試目的為判斷手機自身所輻射出電磁能量的強度。輻射騷擾超標(biāo)的產(chǎn)品可能使設(shè)備或系統(tǒng)性能劣化或者對生物和非生物起不良反映。
傳導(dǎo)連續(xù)騷擾也可稱為傳導(dǎo)騷擾或者傳導(dǎo)干擾即ce。一般來說此項測試目的在于檢測連接到城市公共供電網(wǎng)絡(luò)的手機對于公共電網(wǎng)的影響。
其中雜散（spurious emissions）項目是針對手機而特別提出的。所謂雜散即必要帶寬以外頻率發(fā)射（并且不包括由調(diào)制過程產(chǎn)生的必要帶寬以外頻率的發(fā)射）。
雜散騷擾：除載頻和與正常調(diào)制相關(guān)的頻帶以外離散頻率上的騷擾?？梢苑譃閭鲗?dǎo)和輻射兩種（此處傳導(dǎo)與輻射的測試目的與re和ce類似）。因此在emi中有兩條有關(guān)手機雜散的測試項。
se（r）測試：電臺裝有天線在輻射試驗場測得的雜散窄帶射頻分量。它包括諧波和非諧波分量及寄生分量。此項測試即測試其雜散窄帶射頻分量大小。
se（c）測試：在有匹配負載的天線端測得的雜散射頻分量。其特征通常是在離散頻率上或窄頻帶內(nèi)有一顯著的分量，它包括諧波和非諧波分量以及寄生分量，不包括為傳輸信息的必要頻帶極近處的分量。此項測試即檢測手機在被測頻段內(nèi)產(chǎn)生的諧波和非諧波分量以及寄生分量。
eft測試：這是一種耦合到電子設(shè)備的電源線、控制線和信號線上的，且由許多快速瞬變脈沖組成的脈沖群試驗。試驗的要素是瞬變的上升時間、重復(fù)率和能量。
esd測試：模擬手機在遭受到靜電放電時性能是否會下降或失效,放電分為直接放電和間接放電兩類。對導(dǎo)電表面采用直接接觸放電的方式；對絕緣表面采用空氣放電方式。接觸放電為形式，只有在不能用接觸放電的地方（如表面涂有絕緣層,手機鍵盤縫隙等情況）才改用空氣放電。
surge測試：測試手機電源線和內(nèi)部連接線在經(jīng)受來自開關(guān)切換及自然界雷擊后是否會影響到其各項功能的一種測試。
cs測試：在通常情況下，被干擾設(shè)備的尺寸要比干擾頻率的波長短得多，而設(shè)備的引線（包括電源線、通信線和接口電纜等）的長度則可能與干擾頻率的幾個波長相當(dāng)，這樣，這些引線就可以通過傳導(dǎo)方式（zui終以射頻電壓和電流所形成的近場電磁騷擾在設(shè)備內(nèi)部）對設(shè)備產(chǎn)生干擾。此項測試目的即評價電氣和電子設(shè)備對由射頻場感應(yīng)所引起的傳導(dǎo)騷擾的抗擾度。
rs測試：射頻輻射電磁場對設(shè)備的干擾往往是由設(shè)備操作、維修和安全檢查人員在使用時所產(chǎn)生的，其他如無線電臺、電視發(fā)射臺、移動無線電發(fā)射機和各種工業(yè)電磁輻射源（以上屬有意發(fā)射），以及電焊機、晶閘管整流器、熒光燈工作時產(chǎn)生的寄生輻射（以上屬無意發(fā)射），也都會產(chǎn)生射頻輻射干擾。此項測試目的是建立一個共同的標(biāo)準(zhǔn)來評價電氣和電子設(shè)備的抗射頻輻射電磁場干擾的能力。
dip測試：電壓瞬時跌落、短時中斷是由電網(wǎng)、變電設(shè)施的故障或負荷突然出現(xiàn)大的變化所引起的。在某些情況下會出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的跌落或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負荷連續(xù)變化引起的。此項測試模擬電壓的突變效應(yīng)，以便建立一種評價電氣和電子設(shè)備在經(jīng)受這種變化時的抗擾性通用準(zhǔn)則。
以上對整個手機進網(wǎng)預(yù)測試emc部分進行了簡要介紹，具體相關(guān)測試方法、測試場地要求、測試步驟以及測試限值可以查詢上述所附之國家規(guī)范。
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一、電磁兼容知識大匯總
二、靜電放電抗干擾試驗系統(tǒng)【iec61000-4-2 gb/t17626.2】
三、射頻磁場輻射抗繞度試驗【iec61000-4-3 gb/t17626.3】
四、電快速瞬變脈沖群的抗干擾度試驗【iec61000-4-4 gb/t17626.4】
五、雷擊浪涌抗干擾度試驗【iec61000-4-5 gb/t17626.5】
六、射頻傳導(dǎo)抗擾度試驗【iec61000-4-6 gb/t17626.6】
七、工頻磁場抗擾度試驗【iec61000-4-8 gb/t17626.8】
八、脈沖磁場抗擾度試驗【iec61000-4-9 gb/t17626.9】
九、電壓跌落、短時中斷和電壓漸變的抗干擾度試驗【iec61000-4-11】
十、衰減震蕩&振鈴波抗擾度試驗【iec61000-4-12 gb/t17626.12】
十一、電磁兼容屏蔽室建設(shè)方案
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