1.ict盲點(diǎn)：
①特殊ic（個(gè)別ic對gnd、vcc無保護(hù)二極體）
②單點(diǎn)測試（如排插、插座、個(gè)別單個(gè)測試點(diǎn)的元件）
③并聯(lián)10個(gè)以上的電容并聯(lián)（示電容的精密度作調(diào)整）
④并聯(lián)15倍以上小電阻的大電阻
⑤d/l或d/10ω以下，d不可測
⑥跳線并聯(lián)
⑦壓敏電阻/濾波器
⑧ic內(nèi)部功能測試
2.壓床行程不足,探針壓入量程小于2/3
3.pcb板定位柱松動(dòng)，造成探針偏離焊盤
4.治具針點(diǎn)不準(zhǔn)，探針無法接觸到測試點(diǎn)
5.pcb上測試點(diǎn)/裸銅板/有機(jī)可焊保護(hù)劑/助焊劑/label/過穿孔綠油未打開/吃錫不良
6.pcb制程不良：如未洗板導(dǎo)致pcb上松香過多探針接觸不良
7.探針不良（如針頭鈍化、老化、阻抗過高……）
8.元件廠商變更（如小電容、ic之testjet）可加大±%，更改testjet值
9.未debug良好
10.ict自身故障