貴金屬分析儀也叫做貴金屬測試儀，屬于熒光光譜儀的一種，更確切的是屬于x熒光光譜儀的一個(gè)小分類。在此，小編簡單闡述下貴金分析儀的原理：
1）標(biāo)準(zhǔn)曲線定義：在分析實(shí)驗(yàn)中，常用標(biāo)準(zhǔn)曲線法進(jìn)行定量分析，通常情況下的標(biāo)準(zhǔn)工作曲線是一條直線。
2）工作曲線的目的：x熒光光譜法是一種參考方法，定量樣品的結(jié)果需要標(biāo)準(zhǔn)，因此需要標(biāo)繪標(biāo)準(zhǔn)工作曲線；工作曲線就是利用標(biāo)準(zhǔn)樣品先建立一條標(biāo)準(zhǔn)的校正曲線，測試時(shí)再根據(jù)這個(gè)曲線計(jì)算測量結(jié)果。
3）工作曲線的原理：針對xrf的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，標(biāo)繪標(biāo)準(zhǔn)工作曲線首先要有若干已知含量的標(biāo)準(zhǔn)樣品，然后檢測標(biāo)準(zhǔn)樣品，可得信號強(qiáng)度值，以強(qiáng)度值為橫坐標(biāo)；設(shè)定好計(jì)算方法后輸入標(biāo)準(zhǔn)樣品的含量值，含量值為縱坐標(biāo)，通過使用的軟件的算法，強(qiáng)度與含量擬合成一條標(biāo)準(zhǔn)工作曲線。
光譜儀檢測結(jié)果標(biāo)準(zhǔn)曲線圖
標(biāo)繪工作曲線之后，檢測樣品時(shí)，通過儀器檢測的強(qiáng)度值，即可換算出含量。
4）標(biāo)準(zhǔn)樣品的定義：標(biāo)準(zhǔn)樣品又稱標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，它的特性須經(jīng)機(jī)構(gòu)或大眾確認(rèn)，可以用來標(biāo)定儀器和確定樣品量值的物質(zhì)或材料。
5）x射線熒光光譜分析對標(biāo)準(zhǔn)樣品的要求：
ø 樣品的含量準(zhǔn)確可靠，使用標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)；標(biāo)準(zhǔn)樣品的物理性質(zhì)與待測樣品一致。
ø 標(biāo)準(zhǔn)樣品的物理性質(zhì)穩(wěn)定，（不能使用樣品內(nèi)部偏析不均勻，表面粗糙，表面變質(zhì)氧化的樣品）。
ø 具有多個(gè)含量不同的標(biāo)準(zhǔn)樣品系列，含量范圍應(yīng)包括樣品中元素含量的*值和極小值
貴金屬分析儀的工作原理，也是利用光譜原理，也就是x熒光原理來檢測黃金，白銀純度的儀器，適用于金銀首飾珠寶店，典當(dāng)行，質(zhì)檢所等行業(yè)。西凡金銀鑒定儀，采用攝像定位技術(shù)，*引入珠寶應(yīng)用領(lǐng)域。該攝像定位系統(tǒng)除了讓首飾檢測更加直觀，x熒光更集中與目標(biāo)位置外，還可以講授式被檢測到的精確位置的照片對應(yīng)于檢測結(jié)果，連同計(jì)算報(bào)告一同打印出來。
x-may系列光譜測金儀引用的就是x射線熒光光譜法這種*的貴金屬檢測技術(shù)，由高能x射線激發(fā)原子電子層，使得原子核外電子發(fā)生躍遷，造成二次x射線能量釋放，因不同的元素釋放的能量具有不同特性，探測系統(tǒng)測量這些能量和數(shù)量，從而計(jì)算元素含量。