在貴金屬檢測(cè)領(lǐng)域，傳統(tǒng)的分析方法如試金石法、灰吹法、火試金法等都屬于破壞性檢測(cè)，具有消耗性和危險(xiǎn)性，且樣品的制備過程耗時(shí)更長。而x射線熒光光譜法的技術(shù)相對(duì)成熟，可以達(dá)到即時(shí)分析,無損檢測(cè),不需要任何耗材,并且檢測(cè)精度可以達(dá)到小數(shù)點(diǎn)后四位數(shù)，是我國普及型貴金屬檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展方向。may系列金銀檢測(cè)儀引用的就是x射線熒光光譜法這種*的貴金屬檢測(cè)技術(shù)，由高能x射線激發(fā)原子電子層，使得原子核外電子發(fā)生躍遷，造成二次x射線能量釋放，因不同的元素釋放的能量具有不同特性，探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些能量和數(shù)量，從而計(jì)算元素含量。
x-may系列光譜測(cè)金儀根據(jù)現(xiàn)代光譜儀器的工作原理，光譜儀可以分為兩大類：經(jīng)典光譜儀和新型光譜儀。經(jīng)典光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器；新型光譜儀器是建立在調(diào)制原理上的儀器。經(jīng)典光譜儀器都是狹縫光譜儀器。調(diào)制光譜儀是非空間分光的，它采用圓孔進(jìn)光。
根據(jù)色散組件的分光原理，光譜儀器可分為：棱鏡光譜儀，衍射光柵光譜儀和干涉光譜儀。光學(xué)多道分析儀oma (optical multi-channel analyzer)是近十幾年出現(xiàn)的采用光子探測(cè)器(ccd)和計(jì)算機(jī)控制的新型光譜分析儀器，它集信息采集，處理，存儲(chǔ)諸功能于一體。由于oma不再使用感光乳膠，避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理，測(cè)量工作，使傳統(tǒng)的光譜技術(shù)發(fā)生了根本的改變，大大改善了工作條件，提高了工作效率；使用oma分析光譜，測(cè)量準(zhǔn)確迅速，方便，且靈敏度高，響應(yīng)時(shí)間快，光譜分辨率高，測(cè)量結(jié)果可立即從顯示屏上讀出或由打印機(jī)，繪圖儀輸出。它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測(cè)量，分析及研究工作中，特別適應(yīng)于對(duì)微弱信號(hào)，瞬變信號(hào)的檢測(cè)。
x-may系列光譜測(cè)金儀構(gòu)成
一臺(tái)典型的光譜儀主要由一個(gè)光學(xué)平臺(tái)和一個(gè)檢測(cè)系統(tǒng)組成。包括以下幾個(gè)主要部分：
1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。
2. 準(zhǔn)直元件: 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄?。該?zhǔn)直元件可以是一獨(dú)立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。
3. 色散元件: 通常采用光柵，使光信號(hào)在空間上按波長分散成為多條光束。
4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點(diǎn)對(duì)應(yīng)于一特定波長。
5. 探測(cè)器陣列：放置于焦平面，用于測(cè)量各波長像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測(cè)器陣列可以是ccd陣列或其它種類的光探測(cè)器陣列。