gb/t6672 薄膜厚度測(cè)量儀
labthink蘭光chy-c2 薄膜測(cè)厚儀 薄膜厚度測(cè)量儀滿足多項(xiàng)國家和標(biāo)準(zhǔn)：iso 4593、 iso 534、 iso 3034、 gb/t 6672、 gb/t 451.3、 gb/t 6547、 astm d645、 astm d374、 astm d1777、 tappi t411、 din 53105、 din 53353、 jis k6250、 jis k6328、 jis k6783、 jis z1702、 bs 3983、bs 4817 ，適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。
chy-c2 薄膜測(cè)厚儀 特征
微電腦控制、液晶顯示
菜單式界面、pvc操作面板
接觸式測(cè)量
測(cè)頭自動(dòng)升降
手動(dòng)、自動(dòng)雙重測(cè)量模式
數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印
顯示zui大值、zui小值、平均值和統(tǒng)計(jì)偏差
標(biāo)準(zhǔn)接觸面積、測(cè)量壓力（非標(biāo)可選）
標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定
微型打印機(jī)
rs232接口
網(wǎng)絡(luò)傳輸接口支持局域網(wǎng)數(shù)據(jù)集中管理與互聯(lián)網(wǎng)信息傳輸
chy-c2 薄膜測(cè)厚儀 薄膜厚度測(cè)量儀技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量范圍：0～2mm（常規(guī)）
0～6mm；12mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測(cè)量速度：10次/min（可調(diào)）
測(cè)量壓力：17.5±1kpa（薄膜）；50±1kpa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制
電源：ac 220v 50hz
外形尺寸：300 mm （l）×275 mm （b）×300 mm （h）
凈重：33kg
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以上chy-c2薄膜測(cè)厚儀 薄膜厚度測(cè)量儀信息由labthink發(fā)布，：
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【】介紹
專業(yè)致力于檢測(cè)理論研究與實(shí)驗(yàn)室建設(shè)，服務(wù)于紡織、包裝、印刷、膠粘劑及車用非金屬行業(yè)的品質(zhì)控制事業(yè)，擁有的高分子聚合物阻隔性實(shí)驗(yàn)室，已為世界各地 4000 多家客戶提供多層次專業(yè)化服務(wù)及數(shù)萬套檢測(cè)設(shè)備。憑借專業(yè)精深的研究理念及創(chuàng)新的人才精英團(tuán)隊(duì)， labthink 蘭光以完備的研究設(shè)施、完整的核心技術(shù)、完善的解決方案著稱包裝測(cè)試行業(yè)。
labthink蘭光產(chǎn)品如下：透氧儀、透濕儀、薄膜拉力機(jī)、頂空分析儀、透氣性測(cè)試儀、密封試驗(yàn)儀、摩擦系數(shù)儀、熱縮試驗(yàn)儀、熱封試驗(yàn)儀、落鏢沖擊試驗(yàn)儀、擺錘沖擊試驗(yàn)儀、墨層結(jié)合牢度試驗(yàn)機(jī)、薄膜測(cè)厚儀、持粘性測(cè)試儀、紙箱抗壓機(jī)、電子剝離試驗(yàn)機(jī)、初粘性測(cè)試儀、撕裂度儀等。