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        高溫對閉口閃點(diǎn)測定儀造成的影響

        發(fā)布時(shí)間:2024-09-21
        閉口閃點(diǎn)測定儀作為一種測量儀器主要是用來測量油品等化學(xué)物質(zhì)的,在測量的過程中除了人為因素的影響還有就是外界環(huán)境因素的影響,特別是在炎熱的夏季,溫度過高也會(huì)造成一定的影響,下面就來給大家分析一下。
        1.環(huán)境溫度如果高于60度,對閉口閃點(diǎn)儀將影響很大,首先是試劑的揮發(fā)性,溫度高試劑會(huì)大量揮發(fā),造成損耗,其次,儀器電解水分過程中,溫度過高對儀器的電解時(shí)間、速度、重復(fù)性,穩(wěn)定性造成一定的影響。
        2.使用環(huán)境差,外界干擾增多,測量電極的信號采集和傳輸困難,抗干擾能力減弱,造成儀器測定不準(zhǔn)確。
        3.主板的各電子元件,超過其耐熱承受力,耐熱性能減弱,同時(shí)熱輻射的增強(qiáng),容易燒毀部分電子元器件,造成儀器主板性能不穩(wěn)定。
        4.高溫高濕環(huán)境空氣水汽增多,樣品吸收水分的幾率增大,測定的結(jié)果會(huì)有很大的誤差,造成測量不準(zhǔn)確。
        高溫對于閉口閃點(diǎn)儀的測量是會(huì)造成一定的影響的,所以大家在使用儀器進(jìn)行工作的時(shí)候要注意對于環(huán)境的選擇,確保溫度和濕度在一個(gè)合理的區(qū)間范圍內(nèi),不要盲目的去進(jìn)行操作,以免使得測量結(jié)果不夠準(zhǔn)確。
        上一個(gè):AC0805JR-072K4L,國巨車規(guī)電阻0805 2.4KΩ ±5% 1/8W
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