直流耐壓絕緣電阻測試儀st5680應(yīng)用
電池的安全測試提供更優(yōu)化的檢測方案，通過波形分析提升電池的檢測品質(zhì)
為電池的安全測試提供更優(yōu)化的檢測方案，通過波形分析提升電池的檢測品質(zhì)
● 準確檢查絕緣性能，驗證電池和電機質(zhì)量
● 通過波形和數(shù)值顯示有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序、對收回的不合格產(chǎn)品進行分析、宣傳檢查的可靠性
● 防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出
● 防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測
● 支持廣泛的國際標(biāo)準。搭載bdv（絕緣擊穿電壓）測量功能。
基本參數(shù)（精度保證時間1年）主要功能直流耐壓測試、絕緣電阻測試、絕緣擊穿電壓測試、波形顯示功能、arc放電檢測功能、接觸檢查功能 (詳情請參照“各測試·功能”表)
功能一覽聯(lián)鎖、自動放電、消除偏移、瞬時輸出、命令監(jiān)控、i/o handler、按鍵鎖定、自檢、校準期限檢測、ext sw（遠程控制）
使用溫濕度范圍0°c～40°c，80% rh或以下（無結(jié)露）
適合標(biāo)準安全性：iec 61010 emc：iec 61326
電源電壓ac 100 v ～ 240 v
功耗
約180 va※ ※ 電源條件為電源電壓220 v、電源頻率 50/60 hz、測試模式直流耐壓測試、測試電壓2.5 kv、負載電流5 ma負載電阻500 kω）的情況下。
最大額定功率
800 va
接口
通訊：usb，lan，ext. i/o
選件：rs-232c（z3001），gp-ib（z3000）
存儲：u盤
尺寸·重量
305（w）×142（h）×430（d）mm（不含突起物）10.0 kg ± 0.2 kg
附件
電源線，cd-rom（pdf：使用說明書，通訊使用說明書），ext.i/o用公頭連接器，ext.i/o用連接器蓋ext.i/o用聯(lián)鎖解除治具，啟動指南
各測試·功能直流耐壓測試輸出電壓：dc 0.010 kv ～ 8.000 kv（1 v分辨率） 輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 v） 輸出電流/截止電流：20 ma max 電流精度（*1）：3.00 ma ＜：±（1.5% rdg.＋2 μa）≤ 3.00 ma：±1.5% rdg. 最小分辨率：0.001 μa 測試時間：0.1 s ～ 999 s，continue（timer off） 電壓上升/下降時間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，off 短路電流200 ma 以上 測試模式w→ir，ir→w，程序測試
絕緣電阻測試輸出電壓：dc 10 v ～ 2000 v（1 v分辨率） 輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 v） 電阻值顯示范圍：100.00 kω ～ 200.0 gω（0.01 kω分辨率） 精度保證范圍：100.00 kω ～ 99.99 gω 電阻精度：±（1.5% rdg. + 3 dgt.）*詳情參考下部表格 測試時間：0.1 s ～ 999 s，continue（timer off） 電壓上升/下降時間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，off
絕緣擊穿電壓測試測試方法：連續(xù)升壓測試，逐級升壓測試 測量內(nèi)容：絕緣擊穿電壓（kv），絕緣擊穿的強度（kv/mm） 設(shè)定內(nèi)容：初始電壓，結(jié)束電壓，升壓速度，arc檢測，電極間距離，電流上限值
波形顯示功能波形顯示內(nèi)容：電壓，電流，絕緣電阻 采樣速度：500 ks/s 內(nèi)存容量：512 k words
arc放電檢測功能檢測方式：監(jiān)視試驗測試電壓的變動 設(shè)定內(nèi)容：測試電壓變動率1％～50％
存儲功能·波形·圖形保存到u盤保存格式：bmp、png、csv文件
·面板保存功能將測試條件保存在主機內(nèi)存中直流耐壓測試模式/絕緣電阻測試模式：最多64個程序測試：最多30個（最多50步）絕緣擊穿電壓測試：最多10個
·數(shù)據(jù)存儲功能測量值保存在內(nèi)存，最多32000個
判定功能（判定輸出）判定為pass，判定為fail（upper fail，lower fail）upper_fail：測量值＞上限值pass：上限值≥測量值≥下限值lower_fail：測量值＜下限值
注記（*1）環(huán)境溫度t不足5℃時加上±(1% rdg.×(5-t ) )
環(huán)境溫度t超過35℃時加上±(1% rdg.×(t-35 ) )
絕緣電阻測量精度（*2）（精度保證測試電壓范圍：50 v ~ 2000 v）測試范圍100 kω ～ 99.99 gω
10 na ≦ i ≦ 3 μa100 mω ～ 999.9 mω1.00 gω ～ 99.99 gω ±(20% rdg.)
100 na ≦ i ≦ 30 μa10.00 mω ～ 99.99 mω100.0 mω ～ 999.9 mω ±(5% rdg.)
1 μa ≦ i ≦ 300 μa1.000 mω ～ 9.999 mω10.00 mω ～ 99.99 mω ±(2% rdg. + 5 dgt.)
10 μa ≦ i ≦ 3 ma100.0 kω ～ 999.9 kω1.000 mω ～ 9.999 mω ±(1.5% rdg. +3 dgt.)
100 μa ≦ i ≦ 20 ma100.0 kω ～ 999.9 kω ±(1.5% rdg. +3 dgt.)
注記（*2）· 測試電壓為50 v?99 v時，測量精度加算±10%
· 測試電壓為100 v?999 v時，測量精度加算±5%
· 測試電壓為1000 v?2000 v時，測量精度加算±2%
· 環(huán)境溫度t小于5℃時，加上測量電流i < 100 na:±(5% rdg.×(5-t ) )，或者加上測量電流i≧100 na:±(1% rdg.×(5-t ) )
· 環(huán)境溫度t超過35℃時，加上測量電流i < 100 na:±(5% rdg.×(t-35 ) )，或者加上測量電流i≧100 na:±(1% rdg.×(t-35 ) )
· 測定速度為fast2時，測量精度加倍