日本yamabun用于質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的測(cè)厚儀資料
離線(xiàn)式測(cè)厚儀是臺(tái)式緊湊型測(cè)厚儀。將薄膜或片材切成條狀并測(cè)量。由于測(cè)量是在自動(dòng)運(yùn)輸?shù)耐瑫r(shí)進(jìn)行的，因此任何人都可以輕松快速地進(jìn)行測(cè)量，并且不受測(cè)量者技能的影響是一大特點(diǎn)。常用于質(zhì)量控制部門(mén)和研發(fā)應(yīng)用。此外，由于測(cè)量的圖形可以以環(huán)形顯示，因此經(jīng)常用于充氣膜的制造現(xiàn)場(chǎng)。
型號(hào)：tof-4r05
測(cè)量方法
線(xiàn)規(guī)/夾取法
測(cè)量對(duì)象
薄膜、片材
測(cè)量厚度
0.03 至 3 毫米
型號(hào)：tof-5r01
測(cè)量方法
線(xiàn)性規(guī)
測(cè)量對(duì)象
這個(gè)電影
測(cè)量厚度
0.02-0.2毫米
型號(hào)：tof-6r001
測(cè)量方法
線(xiàn)性規(guī)
測(cè)量對(duì)象
薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亞胺薄膜、光學(xué)薄膜等）
測(cè)量厚度
5-100微米
型號(hào)：tof-c2 * tof-c的后繼型號(hào)
測(cè)量方法
非接觸式
電容式
測(cè)量對(duì)象
薄膜、粘性保護(hù)膜、易附著灰塵的薄膜
測(cè)量厚度
~ 500 微米
型號(hào)：tof-s
測(cè)量方法
非接觸式
光譜干涉儀
測(cè)量對(duì)象
電子、光學(xué)用透明平滑膜、多層膜
測(cè)量厚度
1 至 50 μm（用于薄材料）10
至 150 μm（用于厚材料）
型號(hào)：tof-m
測(cè)量方法
線(xiàn)性規(guī)
測(cè)量對(duì)象
鋼板、鋁板等金屬板
測(cè)量厚度
0.1-0.5毫米
關(guān)鍵詞：測(cè)厚儀